2023年9月，国家标准《纳米技术拉曼光谱法测量二硫化钼薄片的层数》由国家标准化管理委员会正式批复立项。近期，我院李晓莉教授课题组代表yl6809永利作为第二起草单位与中国科学院半导体研究所、泰州巨纳新能源有限公司等单位合作成立该标准的制定工作组，开展相关的技术研讨、关键技术研究及对比实验验证和标准制定等工作。
二硫化钼二维材料（层数不多于10层）具有优异的电学、光学、力学、热学等性能，在学术及工业界都引起了人们广泛的兴趣。它们的层数是影响其性能的关键参数。层数的准确测量是研究、开发和应用二硫化钼二维材料的核心问题之一。该标准的制定将为利用拉曼光谱法进行二硫化钼的层数测量提供科学可靠的鉴定依据以及标准的实验方法，将为二硫化钼二维材料的生产、研究、应用、检验等领域提供快速、无损和高灵敏度的测量方法，也有益于促进拉曼光谱在相关二维材料产业及相关纳米技术领域中的推广应用，推动二维材料产业的健康有序发展。
此前，我院在2021年曾作为第三起草单位参与了国家标准《纳米技术石墨烯相关二维材料的层数测量拉曼光谱法》（GB/T 40069-2021）的制定工作并在其中发挥重要作用，此标准已经在2021年12月1日正式实施。以上工作表明我院在该领域科研工作的能力和水平得到了业界的充分肯定。
